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| Registros recuperados : 300 | |
| 13. |  | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.| Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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| 17. | | BRAGA, E. L.; GOMES, E. C. B.; LEITE, F. de A. B.; LEITE, F. R. B. Levantamento detalhado dos solos e classificação de terras para irrigação de área no município de Jucas - Ceará. IN: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIÊNÇIA DO SOLO, 25., 1995, Viçosa, MG. Resumos expandidos. Viçosa: UFV, 1995. v.3, p. 1703-1704.| Biblioteca(s): Embrapa Semiárido; Embrapa Tabuleiros Costeiros. |
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| 19. | | LEITE, F. de A. B.; BARRETO, M. M. S.; LEITE, F. R. B. Levantamento do potencial agricola das terras do imovel Arirao, Municipio de Caninde, Ceara. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 25., 1995, Vicosa, MG. O solo nos grandes dominios morfoclimaticos do Brasil e o desenvolvimento sustentado: resumos expandidos. Vicosa, MG: SBCS/UFV, 1995. v.3, p.1700-1702| Biblioteca(s): Embrapa Semiárido. |
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| 20. | | MARQUES, J. N.; LEITE, F. de A. B.; LEITE, F. R. B.; BARRETO, M. M. S. Levantamento do potencial agricola das terras do imovel Serrote Branco/ Luiz Ferreira, Municipio de Jaguaretama- Ceara. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 25., 1995, Vicosa, MG. O solo nos grandes dominios morfoclimaticos do Brasil e o desenvolvimento sustentado: resumos expandidos. Vicosa, MG: SBCS/UFV, 1995. v.3, p.1662-1663.| Biblioteca(s): Embrapa Semiárido. |
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| Registros recuperados : 300 | |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
09/02/2001 |
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Data da última atualização: |
11/04/2008 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. |
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Título: |
Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. |
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Ano de publicação: |
2000 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
Utilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza. MenosUtilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silic... Mostrar Tudo |
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Palavras-Chave: |
Evento cientifico; Instrumentacao; MFA; Microscopia de forca atomica; Piezoeletrico. |
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Thesagro: |
Adsorção. |
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Thesaurus NAL: |
atomic force microscopy; instrumentation. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 02571naa a2200241 a 4500
001 1030892
005 2008-04-11
008 2000 bl --- 0-- u #d
100 1 $aLEITE, F. L.
245 $aMedidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos.
260 $c2000
520 $aUtilizamos um microscopio de forca atomica (MFA) para medir as forcas de adesao de agua adsorvida sobre substratos solidos, na escala nanometrica. Tais forcas sao obtidas a partir de curvas que registram o deslocamento D da haste em relacao a variacao da posicao z do piezoeletrico.Estas curvas sao registradas utilizando o MFA. Inicialmente desloca-se a ponta da agulha em direcao a amostra. Assim que a agulha, confeccionada em nitreto de silicio (SI N), toca o liquido, ela sofre uma deflexao vertical negativa (para baixo) devido as forcas capilares (atrativas). Continua-se o processo de aproximacao ate a agulha tocar a superficie do substrato solido. A deflexao passa entao a ser positiva, indicando que a ponta da agulha esta exercendo uma pressao sobre o solido. Durante a passagem da deflexao negativa para positiva, o comportamento no grafico do deslocamento, D, versus distancia, z, e linear, de onde se determina a elasticidade do solido. Iniciando-se o procedimento de afastamento entre a agulha e o solido, o comportamento da curva D x z e revertida ate a agulha se desprender do liquido. Nesta situacao particular, a forca negativa (de atracao) e maxima e igual a forca de adesao entre a agua e a ponta da agulha. curvas de forca, devido ao deslocamento da agulha, foram obtidas para agua adsorvida em superficies de quartzo e mica utilizando uma agulha, com o raio da ponta em torno de 50nm, fixada a um cantilever com constante de mola igual a 0,064N/m, tambem de nitreto de silicio. A partir destas curvas, as quais estao relacionadas as curvas de forca, extraimos informacoes sobre a interacao entre a agulha e o liquido, como forcas de adesao e espessura da camada de liquido adsorvido, e entre a agulha e o substrato, como elasticidade e dureza.
650 $aatomic force microscopy
650 $ainstrumentation
650 $aAdsorção
653 $aEvento cientifico
653 $aInstrumentacao
653 $aMFA
653 $aMicroscopia de forca atomica
653 $aPiezoeletrico
700 1 $aZIEMATH, E. C.
700 1 $aHERRMANN, P. S. P.
773 $tIn: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.
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